Дифракционный структурный анализ. Основные методы исследования : [учебно-методическое пособие по направлениям подготовки бакалавров "Нанотехнологии и микросистемная техника", "Физика", "Техническая физика"]
Сосунов А. В., Малинина Л. Н.
Издательство: ПГНИУ
Год: 2021
Страниц: 92
Рассмотрены основные методы исследования атомно-молекулярного строения вещества с помощью рентгеноструктурного анализа: метод порошков, метод Лауэ и метод вращения. Приведена краткая теория дифракционного структурного анализа. По каждому из основных методов исследования предложены и описаны лабораторные работы по определению структурных параметров кристаллов. Предназначено для студентов на правлений подготовки бакалавров "Нанотехнологии и микросистемная техника", "Физика" и "Техническая физика" физического факультета университета
Сосунов, Алексей Владимирович. Дифракционный структурный анализ. Основные методы исследования : [учебно-методическое пособие по направлениям подготовки бакалавров "Нанотехнологии и микросистемная техника", "Физика", "Техническая физика"] / А. В. Сосунов, Л. Н. Малинина. – Пермь : ПГНИУ, 2021Библиогр.: с. 92 (7 назв.).
Дополнительная информация
  • ISBN
    978-5-7944-3673-0
  • Город
    Пермь
  • Место хранения
    Ч/з1
  • Индекс ГРНТИ
    29.19
Дополнительные изображения