В учебнике представлен процесс подготовки заявочных материалов на выдачу охранных документов на изобретения, полезные модели, промышленные образцы, товарные знаки и знаки обслуживания, географические указания и наименования мест происхождения товаров, селекционные достижения, программы для ЭВМ, базы данных, топологии интегральных микросхем, их подачи и рассмотрения в уполномоченных федеральных органах исполнительной власти. При подготовке издания были использованы материалы лекций "Основы патентной экспертизы", "Патентная экспертиза", "Теория и практика патентной экспертизы" и "Экспертиза объектов интеллектуальной собственности", читаемых автором в Российской государственной академии интеллектуальной собственности (РГАИС) на протяжении 25 лет, а также ранее изданные им учебники, учебные пособия и монографии, в которых освещаются вопросы экспертизы объектов интеллектуальной собственности. Учебник предназначен для студентов и аспирантов, обучающихся по направлению подготовки "Юриспруденция" и изучающих дисциплины, связанные с правом интеллектуальной собственности

Китайский, Владимир Евгеньевич. Экспертиза объектов интеллектуальной собственности : учебник / В. Е. Китайский ; Российская государственная академия интеллектуальной собственности. – Москва : РГАИС, 2024Библиогр.: с. 353-363 (151 назв.).