Исследование технического уровня объектов науки и техники
Шведова В. В.
Издательство: ОнтоПринт
Год: 2021
Страниц: 136
В работе рассмотрено содержание понятия технического уровня объекта и его отличие от понятия уровня техники, изложены методические основы исследования технического уровня объектов науки и техники, показана роль патентно-информационных исследований на различных стадиях и этапах жизненного цикла объекта для получения исходных данных и обеспечения высокого технического уровня продукции. Книга будет полезной исследователям и разработчикам, патентоведам и патентным поверенным, заказчикам и руководителям организаций - исполнителей научно-исследовательских, опытно-конструкторских и технологических работ.
Шведова, Вера Владимировна. Исследование технического уровня объектов науки и техники / В. В. Шведова. – 2-е изд., испр. и доп.. – Москва : ОнтоПринт, 2021Библиогр.: с. 128-131 (37 назв.).
Дополнительная информация
  • ISBN
    978-5-00121-348-2
  • Cведения об издании
    2-е изд., испр. и доп.
  • Город
    Москва
  • Общие примечания
    Издание выполнено в авторской редакции на основании авторского оригинал-макета
  • Предметная рубрика
    Патентная информация
  • Место хранения
    Ч/з9
  • Индекс ГРНТИ
    85.29
Дополнительные изображения